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Bulletin SSC n° 82 DĂ©cembre 2016 33 ContrĂŽle qualitĂ© et numĂ©risation tridimensionnelle de piĂšces horlogĂšres par tomographie rayons X L a tomographie par rayons X est une technique bien connue dans le domaine mĂ©dical, elle est cependant moins rĂ©pandue dans le secteur industriel. Cette mĂ©thode d’imagerie trĂšs performante permet des mesures tridimen- sionnelles pour des piĂšces de gĂ©omĂ©trie complexe. Elle est en passe de devenir une mĂ©thode de mesure incon- tournable pour le contrĂŽle qualitĂ©. Yves SalvadĂ©, Valentin Perez, Antoine Bueche, SĂ©bastien Le Floch, groupe de MĂ©trologie et Vision Industrielle Haute Ecole Arc IngĂ©nierie Rue de la Serre 7, CH – Saint-Imier www.he-arc.ch/ingenierie/groupe-competences-metrologie-et-vi- sion-industrielle Imagerie Les rayons X ont des longueurs d’onde extrĂȘmement courtes, entre 0.01 nanomĂštre (nm) et 10 nm, alors que la lumiĂšre visible est constituĂ©e de longueurs d’onde entre 400 nm (violet) et 700 nm (rouge). Cela les rend beaucoup plus pĂ©nĂ©trants que la lumiĂšre visible, et un matĂ©riau opaque dans le visible peut ainsi devenir transparent aux rayons X. Le degrĂ© de transparence dĂ©pend de la densitĂ© de la matiĂšre. En imagerie mĂ©dicale, on utilise le fait que les tissus mous sont transparents aux rayons X, alors que les os les absorbent en grande partie. Dans le domaine de la mĂ©trologie et du contrĂŽle qualitĂ©, ce phĂ©nomĂšne nous permet de dĂ©tecter des dĂ©fauts (fissures, inclusions gazeuses) au cƓur de la matiĂšre ; et permet Ă©galement d’inspecter des assemblages fermĂ©s. Mais l’application la plus impressionnante de ce phĂ©no- mĂšne est certainement la possibilitĂ© de mesurer une forme tridimensionnelle [1], mĂȘme complexe, Ă  partir de l’analyse numĂ©rique de plusieurs images de projections aux rayons X, prises pour diffĂ©rents angles de rotation de la piĂšce. La Haute Ecole ARC ingĂ©nierie s’est rĂ©cemment Ă©quipĂ©e d’un tomographe Ă  Rayons X (Wenzel exaCT S75HRE), adaptĂ© Ă  la mesure de petites piĂšces horlogĂšres et de piĂšces plastiques. AprĂšs une brĂšve introduction au principe de mesures, divers exemples de mesures vont ĂȘtre prĂ©sentĂ©s, de mĂȘme qu’une analyse des performances mĂ©trologiques d’un tel instrument. Nous dĂ©crirons encore le processus que nous avons choisi d’utiliser Ă  la Haute Ecole ARC IngĂ©nierie pour garantir la traçabilitĂ© des rĂ©sultats. Description du principe de mesures Le principe de mesure est dĂ©crit par la figure 1. Un fais- ceau de rayons X en forme de cĂŽne est Ă©mis par le systĂšme. Ce faisceau va traverser l’objet Ă  mesurer gĂ©nĂ©rant ainsi une image de projection rayons X sur un dĂ©tecteur matriciel. Ce dĂ©tecteur est constituĂ© de scintillateurs suivi d’une camĂ©ra de 2 mĂ©gapixels. Le grandissement du systĂšme dĂ©pend de la distance entre l’objet et la source. Cette distance peut ĂȘtre modifiĂ©e Ă  l’aide d’une table de translation. L’attĂ©nuation des rayons X Ă  travers l’objet dĂ©pend essentiellement de deux types d’interaction entre les photons du rayonnement X et les Ă©lectrons de la matiĂšre [2] : D’une part, l’effet photoĂ©lectrique, dont la consĂ©quence est l’absorption de photons incidents par les Ă©lectrons des atomes de la matiĂšre, ce qui leur permet de s’ex- traire de leur atome. D’autre part l’effet Compton, oĂč l’énergie des photons incidents n’est que partiellement transmises aux Ă©lectrons de la matiĂšre par collision, le photon Ă©tant ensuite diffusĂ©.

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ContrÎle qualité et numérisation tridimensionnelle de piÚces horlogÚres par tomographie rayons X

La tomographie par rayons X est une technique bien connue dans le domaine mĂ©dical, elle est cependant moins rĂ©pandue dans le secteur industriel. Cette mĂ©thode d’imagerie trĂšs performante permet des mesures tridimen-sionnelles pour des piĂšces de gĂ©omĂ©trie complexe. Elle est en passe de devenir une mĂ©thode de mesure incon-

tournable pour le contrÎle qualité.

Yves SalvadĂ©, Valentin Perez, Antoine Bueche, SĂ©bastien Le Floch, groupe de MĂ©trologie et Vision IndustrielleHaute Ecole Arc IngĂ©nierieRue de la Serre 7, CH – Saint-Imierwww.he-arc.ch/ingenierie/groupe-competences-metrologie-et-vi-sion-industrielle

Imagerie

Les rayons X ont des longueurs d’onde extrĂȘmement courtes, entre 0.01 nanomĂštre (nm) et 10 nm, alors que la lumiĂšre visible est constituĂ©e de longueurs d’onde entre 400 nm (violet) et 700 nm (rouge). Cela les rend beaucoup plus pĂ©nĂ©trants que la lumiĂšre visible, et un matĂ©riau opaque dans le visible peut ainsi devenir transparent aux rayons X. Le degrĂ© de transparence dĂ©pend de la densitĂ© de la matiĂšre. En imagerie mĂ©dicale, on utilise le fait que les tissus mous sont transparents aux rayons X, alors que les os les absorbent en grande partie. Dans le domaine de la mĂ©trologie et du contrĂŽle qualitĂ©, ce phĂ©nomĂšne nous permet de dĂ©tecter des dĂ©fauts (fissures, inclusions gazeuses) au cƓur de la matiĂšre ; et permet Ă©galement d’inspecter des assemblages fermĂ©s.

Mais l’application la plus impressionnante de ce phĂ©no-mĂšne est certainement la possibilitĂ© de mesurer une forme tridimensionnelle [1], mĂȘme complexe, Ă  partir de l’analyse numĂ©rique de plusieurs images de projections aux rayons X, prises pour diffĂ©rents angles de rotation de la piĂšce. La Haute Ecole ARC ingĂ©nierie s’est rĂ©cemment Ă©quipĂ©e d’un tomographe Ă  Rayons X (Wenzel exaCT S75HRE), adaptĂ© Ă  la mesure de petites piĂšces horlogĂšres et de piĂšces plastiques. AprĂšs une brĂšve introduction au principe de mesures, divers exemples de mesures vont ĂȘtre prĂ©sentĂ©s, de mĂȘme qu’une analyse des performances mĂ©trologiques d’un tel instrument. Nous dĂ©crirons encore le processus que

nous avons choisi d’utiliser Ă  la Haute Ecole ARC IngĂ©nierie pour garantir la traçabilitĂ© des rĂ©sultats.

Description du principe de mesures

Le principe de mesure est dĂ©crit par la figure 1. Un fais-ceau de rayons X en forme de cĂŽne est Ă©mis par le systĂšme. Ce faisceau va traverser l’objet Ă  mesurer gĂ©nĂ©rant ainsi une image de projection rayons X sur un dĂ©tecteur matriciel. Ce dĂ©tecteur est constituĂ© de scintillateurs suivi d’une camĂ©ra de 2 mĂ©gapixels. Le grandissement du systĂšme dĂ©pend de la distance entre l’objet et la source. Cette distance peut ĂȘtre modifiĂ©e Ă  l’aide d’une table de translation. L’attĂ©nuation des rayons X Ă  travers l’objet dĂ©pend essentiellement de deux types d’interaction entre les photons du rayonnement X et les Ă©lectrons de la matiĂšre [2] :

ïżœ D’une part, l’effet photoĂ©lectrique, dont la consĂ©quence est l’absorption de photons incidents par les Ă©lectrons des atomes de la matiĂšre, ce qui leur permet de s’ex-traire de leur atome.

ïżœ D’autre part l’effet Compton, oĂč l’énergie des photons incidents n’est que partiellement transmises aux Ă©lectrons de la matiĂšre par collision, le photon Ă©tant ensuite diffusĂ©.

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L’ampleur de l’attĂ©nuation des rayons X dĂ©pend ainsi de l’épaisseur de la matiĂšre Ă  traverser, de sa densitĂ©, et de l’énergie des rayons X (elle-mĂȘme dĂ©pendante de la tension appliquĂ©e Ă  la source rayons X). L’objet est placĂ© sur une table rotative de haute prĂ©cision. Une multitude de projec-tions rayons X de l’objet sont alors acquises pour diffĂ©rents angles de rotation. Une analyse des images et une recons-truction numĂ©rique permet ensuite d’obtenir une reprĂ©senta-tion tridimensionnelle de l’objet.

tats de mesure d’une piĂšce de rĂ©fĂ©rence obtenus par tomographie rayons X avec ceux obtenus Ă  l’aide d’une machine de mesure tridimensionnelle (MMT).

La résolution volumétrique dépend de plusieurs para-mÚtres :

ïżœ Le grandissement : comme on l’a dĂ©jĂ  mentionnĂ©, il dĂ©pend essentiellement de la distance source – objet, comme le montre la figure 2. Il est Ă©gal Ă 

. (1)

ïżœ Taille du pixel du dĂ©tecteur matriciel : environ 45 𝜇 m dans notre cas. Si l’on nĂ©glige la taille de la source rayons X, la rĂ©solution volumĂ©trique est donc donnĂ©e par 45 𝜇 m / M.

ïżœ Taille de la source rayons X : lorsque la distance source – objet est petite, c’est celle-ci qui va limiter la rĂ©solution volumĂ©trique. En effet, la taille de la source va engendrer une zone de « flou » (en anglais « blurring » [3]). La rĂ©solution est ainsi au mieux de 4 𝜇 m.

Fig. 1 : Illustration du principe de mesure d’un tomographe à Rayons X (Image mise à disposition par le groupe Wenzel).

Notons que le rĂ©sultat de la numĂ©risation dĂ©pend d’une multitude de paramĂštres : la tension et le courant Ă  utiliser pour le tube Ă  rayons X, le positionnement de la piĂšce Ă  l’intĂ©rieur du volume de mesure, le temps d’intĂ©gration du dĂ©tecteur, le nombre d’images Ă  acquĂ©rir, ainsi que l’éven-tuelle insertion de filtres Ă  la sortie du tube. Ces paramĂštres dĂ©pendent de la taille de la piĂšce, de sa complexitĂ© gĂ©omĂ©-trique et de la masse volumique de sa matiĂšre. Le volume de mesure maximal du tomographe Wenzel exaCT S est un cylindre de 75 mm de diamĂštre et de hauteur 40 mm. Il va cependant de soi que ce volume maximal est atteint unique-ment pour le grandissement le plus faible, Ă  savoir lorsque la distance entre l’objet et la source est maximale.

Performances métrologiques du tomographe

Nous discuterons dans ce chapitre de deux notions métrologiques importantes :

ïżœ RĂ©solution volumĂ©trique du tomographe : c’est le plus petit volume dĂ©tectable par le tomographe. Par analo-gie au pixel (PICTure ELement), on parle ici de voxel (Ă©lĂ©-ment de volume).

ïżœ Incertitude de mesure du tomographe : c’est elle qui va limiter l’exactitude de mesure. Une estimation de l’incer-titude de mesure a Ă©tĂ© obtenue en comparant les rĂ©sul-

Fig. 2 : SchĂ©ma expliquant le principe de projection, et de l’effet de « blurring ».

DĂ©pendant du grandissement, nous aurons ainsi des tailles de voxel pouvant varier de 4 Ă  40 𝜇 m.

Afin d’estimer l’incertitude de mesure du tomographe, nous avons comparĂ© les rĂ©sultats de mesure obtenus par tomographie, Ă  ceux obtenus sur la mĂȘme piĂšce Ă  l’aide d’une machine de mesure tridimensionnelle (MMT). La piĂšce de rĂ©fĂ©rence fabriquĂ©e pour cette analyse est similaire Ă  l’une de celle dĂ©veloppĂ©e par l’UniversitĂ© Technique du Danemark pour une Ă©tude similaire [3]. Une photographie de la piĂšce est montrĂ©e en figure 3. Il s’agit de diffĂ©rentes sphĂšres en rubis (4 billes de diamĂštre 2 mm, 11 billes de diamĂštre 3 mm et une bille de diamĂštre 4 mm) fixĂ©es sur une plaque en verre d’environ 25 mm x 25 mm. Les tolĂ©rances sur les diamĂštres des sphĂšres sont de -1 𝜇 m et +0.5 𝜇 m et les sphĂ©ricitĂ©s ont des tolĂ©rances de +/-0.13 𝜇 m.

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Les distances entre les sphĂšres ont Ă©tĂ© mesurĂ©es tout d’abord Ă  l’aide d’une MMT de type DEA Global Image. L’in-certitude de mesure correspondant Ă  deux Ă©cart-types est donnĂ©e par la formule

. (2)

Les distances L Ă  mesurer Ă©tant infĂ©rieures Ă  30 mm, on voit que l’incertitude de mesure de notre MMT est de maxi-mum 1.6 𝜇 m. Notons aussi que la tempĂ©rature de la salle dans laquelle les mesures sont effectuĂ©es est rĂ©gulĂ©e Ă  20°C +/-0.5°C (salle blanche ISO-7, dĂ©diĂ©e aux applications mĂ©trologiques).

La figure 4 montre la reprĂ©sentation tridimensionnelle de la piĂšce de rĂ©fĂ©rence aprĂšs avoir Ă©tĂ© tomographiĂ©e. La taille du voxel obtenue est d’environ 20 𝜇 m. En plaçant une sonde de tempĂ©rature de type NTC, nous avons constatĂ© que la tempĂ©rature de la chambre de mesure du tomographe est env. 1°C plus Ă©levĂ© que la tempĂ©rature ambiante de la salle. Compte-tenu du coefficient de dilatation thermique du verre, les mesures faites par tomographie devraient ĂȘtre plus longues de 9 ppm (pour L = 30 mm, cela correspond Ă  environ 0.3 𝜇 m).

Les diamĂštres et positions de chacune des sphĂšres sont dĂ©terminĂ©s Ă  l’aide du logiciel d’analyse Metrosoft Quartis (Wenzel). Ce logiciel permet d’effectuer une sorte de « palpage virtuel » sur le fichier tridimensionnel. Les dis-tances entre les billes sont alors calculĂ©es. Le graphique de la figure 5 montre les rĂ©sultats obtenus par tomographie (mesures CT), en fonction des mesures obtenues par pal-page mĂ©canique (mesures MMT), considĂ©rĂ©es ici comme rĂ©fĂ©rences. Une rĂ©gression linĂ©aire est alors appliquĂ©e. On constate une pente lĂ©gĂšrement supĂ©rieure Ă  1, mais l’écart n’est pas significatif puisque l’intervalle de confiance de la pente (niveau de confiance de 95 %) comprend la valeur unitaire. La concordance entre les deux sĂ©ries de mesures est donc trĂšs bonne. Les rĂ©sidus de la rĂ©gression linĂ©aire sont compris dans l’intervalle ±4 𝜇 m. L’écart-type des rĂ©si-dus est de 1.5 𝜇 m. Notons que les 0.3 𝜇 m de dilatation thermique due Ă  l’écart de tempĂ©rature de 1°C sont nĂ©gli-geables par rapport Ă  ces fluctuations alĂ©atoires. Selon la norme ISO 15530-3 [4], l’incertitude Ă©largie est donnĂ©e par la relation

, (3)

oĂč k est le facteur d’élargissement (k = 2 pour un niveau de confiance de 95 %), ucal est l’incer-titude-type de l’étalonnage de la piĂšce de rĂ©fĂ©-rence, qui selon l’équation (2) est d’environ 1.6 𝜇 m/2 = 0.8 𝜇 m, up est l’incertitude-type de la rĂ©pĂ©ta-bilitĂ© du procĂ©dĂ© de mesure (on prendra l’écart-type des rĂ©sidus citĂ© ci-dessus), uW est l’incertitude-type liĂ©e Ă  la tempĂ©rature (nĂ©gligeable comme mentionnĂ© ci-dessus) et b est le biais systĂ©matique (selon la pente de la rĂ©gression linĂ©aire, il y a un lĂ©ger biais de 40 ppm, soit 1.2 𝜇 m pour une longueur de 30 mm). L’incertitude Ă©largie (k = 2, niveau de confiance de 95 %) pour des dimensions infĂ©rieures Ă  30 mm est donc estimĂ©e Ă 

, (4)

Les mesures des diamĂštres des billes ont permis de corroborer cette estimation d’incertitudes, des Ă©carts de l’ordre de 0 Ă  4 microns ayant Ă©tĂ© obtenus par rap-port aux valeurs nominales. Il est intĂ©ressant de consta-ter que cette incertitude est bien infĂ©rieure Ă  la taille du voxel (20 𝜇 m), dĂ©montrant qu’une interpolation sub-voxel est possible. Notons aussi que la mĂ©thode dĂ©crite ci-dessous nous fournit aussi un moyen de garantir la traçabilitĂ© des mesures faites par tomographie. En effet, l’étalonnage du tomographe peut ĂȘtre vĂ©rifiĂ© par compa-raison avec des mesures obtenues Ă  l’aide d’une MMT Ă©talonnĂ©e annuellement. Cette vĂ©rification d’étalonnage sera donc rĂ©pĂ©tĂ©e pĂ©riodiquement pour assurer la tra-çabilitĂ© des mesures effectuĂ©es Ă  l’aide de notre tomo-graphe.

Fig. 3 : PiÚce de référence utilisée pour la vérification du tomographe de la HE-ARC.

Fig. 4 : Représentation tridimensionnelle du résultat de la tomographie.

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Exemples d’applications

Les figures 6-10 montrent des exemples typiques d’ap-plications de mesures effectuĂ©es par tomographie rayons X. Le tomographe et ses outils d’analyse sont particuliĂšrement intĂ©ressants pour les applications suivantes :

ïżœ Mesures de composants d’un mouvement horloger (Fig. 6)

ïżœ Comparaison entre la forme tridimensionnelle mesurĂ©e et son modĂšle CAO (Fig. 7)

ïżœ ContrĂŽle d’assemblages, identification des problĂšmes lors de l’assemblage de deux voire plusieurs piĂšces mĂ©caniques (Figs. 8 et 9)

ïżœ DĂ©tection d’inclusions gazeuses, ou de dĂ©fauts internes de piĂšces en polymĂšre (Fig. 10)

Fig. 5 : Comparaison des mesures effectuĂ©es par tomographie et celles obtenues Ă  l’aide d’une MMT DEA.

Fig. 6 : (a) ressort spiral, (b) roue d’ancre et (c) balancier.

Fig. 7 : Comparaison entre le fichier 3D de mesure d’une roue den-tĂ©e et son modĂšle CAO. Le logiciel d’analyse permet de mettre en Ă©vidence les Ă©carts, situĂ©s ici entre -0.07 mm (bleu) et +0.07 mm (rouge).

Fig. 8 : ContrĂŽle de l’assemblage du premier maillon d’un bracelet mĂ©tallique avec son boĂźtier de montre. L’analyse permet non seu-lement un contrĂŽle dimensionnel de l’aspect extĂ©rieur de l’assem-blage, mais permet Ă©galement de vĂ©rifier que les deux piĂšces s’as-semblent correctement : les diffĂ©rentes coupes du fichier de mesure 3D montrent ici que le maillon ne s’assemble pas correctement avec le boĂźtier en raison d’un conflit mĂ©canique de 0.13 mm.

Fig. 9 : Mesure d’une couronne de montre et de sa tige de remon-toir : l’analyse permet de vĂ©rifier aisĂ©ment si les deux filets sont com-patibles (on voit ici que le diamĂštre du filet de la couronne se res-serre au fonds de l’alĂ©sage, rendant impossible l’assemblage.

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Conclusions

Le tomographe Ă  rayons X de la Haute Ecole Arc IngĂ©-nierie permet des mesures tridimensionnelles de piĂšces en polymĂšre, de composants horlogers, ou de piĂšces micro-mĂ©caniques en gĂ©nĂ©ral. C’est une mĂ©thode de mesure qui a l’avantage d’ĂȘtre non invasive et permet une mesure com-plĂšte d’un objet de maniĂšre relativement rapide, et ce mĂȘme en cas de gĂ©omĂ©trie complexe. Contrairement aux moyens de mesures traditionnels (palpage, vision), la tomographie Ă  rayons X permet la dĂ©tection de dĂ©fauts internes. Une com-paraison directe avec le modĂšle CAO est en outre possible grĂące aux logiciels d’analyse accompagnant le tomographe. Un contrĂŽle d’assemblage de diffĂ©rentes piĂšces peut Ă©gale-ment ĂȘtre effectuĂ©. La rĂ©solution volumĂ©trique la plus fine est de l’ordre de 4 𝜇 m. L’incertitude de mesures est Ă©galement de l’ordre de 4 𝜇 m pour des dimensions infĂ©rieures ou Ă©gales Ă  30 mm, et ce mĂȘme pour des rĂ©solutions volumĂ©triques de 20 𝜇 m. Une incertitude somme toute concurrentielle par rapport aux mĂ©thodes basĂ©es sur la vision, ou mĂȘme par rapport aux mĂ©thodes de mesure basĂ©es sur des palpeurs mĂ©caniques (qui sont peut-ĂȘtre lĂ©gĂšrement plus exacts, mais nĂ©cessitent un temps de mesure trĂšs important pour une mesure tridimensionnelle complĂšte). Nous avons de plus Ă©ta-bli un processus de vĂ©rification d’étalonnage de notre tomo-graphe qui nous permet de garantir la traçabilitĂ©, c’est-Ă -dire un raccordement aux Ă©talons nationaux. Cet Ă©quipement nous permet de parfaire la formation de nos Ă©tudiants dans le domaine du contrĂŽle qualitĂ©, et nous permet Ă©galement de mieux rĂ©pondre aux besoins des PMEs en matiĂšre de mĂ©tro-logie dimensionnelle. Il est Ă©galement frĂ©quemment utilisĂ© dans le cadre de projets de Recherche AppliquĂ©e et DĂ©ve-loppement, notamment dans le domaine de la micro-injection

Fig. 10 : DĂ©tection d’une inclusion gazeuse Ă  l’intĂ©rieur d’une petite vis en polymĂšre rĂ©alisĂ©e par injection. Le logiciel d’analyse permet de mesurer le volume de cette bulle ainsi que son encombrement.

plastique. Notons encore que le tomographe fait partie intĂ©-grante des instruments de mesures du Centre d’Excellence en CaractĂ©risation [5], une nouvelle entitĂ© rĂ©cemment crĂ©Ă©e qui rĂ©unit les experts et les moyens du CSEM (Centre Suisse d’Electronique et de Microtechnique) et de la HE-ARC. Ce centre vise Ă  offrir une large palette de services au tissu indus-triel rĂ©gional dans le domaine de la caractĂ©risation de micro et nanostructures, de l’analyse des matĂ©riaux, ainsi que de la mĂ©trologie dimensionnelle.

Références

[1] M. Bartscher, U. hilpert, F. hÀrtig, U. NeUschaeFer-rUBe, « Industrial Computed Tomography, an Emerging Coordinate Measurement Technology with High Potentials », 2008 NCSL International Workshop and Symposium.

[2] e. VaN de casteele, Model-based approach for beam hardening correction and resolution measurements in microtomography, Ph.D. thesis, Universiteit Antwerpen, Antwerpen (2004).

[3] p. MĂŒller, Coordinate Metrology by Traceable Computed Tomogra-phy, Ph.D. thesis, Technical University of Denmark, December 2012.

[4] Norme ISO 15530-3:2011, Geometrical product specifications (GPS) – Coordinate measuring machines (CMM) : Technique for determining the uncertainty of measurement – Part 3 : Use of calibrated workpieces or measurement standards.

[5] Lien Internet : http://www.microcity.ch/ecosystĂšme-dinnova-tion/projets/centre-d’excellence-en-caractĂ©risation.

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