resist - 03 nov 2008 p. colas 1 resist etat des lieux, bulk résistif, techniques disponibles

RESIST - 03 Nov 2008RESIST - 03 Nov 2008 P. ColasP. Colas 11

RESISTRESIST

Etat des lieux, bulk Etat des lieux, bulk résistif, techniques résistif, techniques

disponiblesdisponibles


Introduction : butsIntroduction : buts Améliorer la résolution par un Améliorer la résolution par un

meilleur partage de chargemeilleur partage de charge Protéger le détecteur et Protéger le détecteur et

l’électronique contre les étincelles l’électronique contre les étincelles

Ceci est nécessaire pour obtenir la résolution voulue pour la TPC de l’ILC (100 microns) sans multiplier le nombre de canaux, et ceci peut être utile également pour T2K, si des problèmes de stabilité apparaissaient ou si une résolution meilleure que 500 microns s’avérait utile.


Théorie analytique de la Théorie analytique de la résolutionrésolution

Avec nos collègues japonais, nous avons mis au point une théorie analytique de la résolution:

Effets de fluctuation d’ionisation, de fluctuation du gain, et de taille finie des pads, limitent la résolution.

En raison du manque de partage de la charge entre pads voisins la résolution est, au mieux, de 10% de la largeur des pads

1/√12

1/√(12.Neff)


Extrapolation à la TPC de l’ILCExtrapolation à la TPC de l’ILC

Conclusion: même avec un pas de 1mm, Micromegas avec des pads standard ne permettrait pas d’atteindre le but de 130 m de résolution.

Cependant avec une feuille résisitive et des pads de 2.3 mm, ce but est largement atteint (courbe rouge).


Feuille Feuille résistiverésistiveUne feuille résistive collée sur le plan Une feuille résistive collée sur le plan

d’anode en fait un réseau de d’anode en fait un réseau de résistances et capacités qui étale la résistances et capacités qui étale la charge charge Proc. of LCWS 2005

On obtient une résolution de On obtient une résolution de 50 50 micronsmicrons à petite dérive à petite dérive

(et à toute dérive pour B assez (et à toute dérive pour B assez grand)grand)

Faisceau test à KEK B=1T

Micromegas avec feuille résistive

Q

ns

Cosmiques en champ magnétique

Dapnia 07-36, soumis à NIM A


Bulk résisitifBulk résisitif La technologie bulk La technologie bulk NIM A 560 (2006) 405NIM A 560 (2006) 405

permet une grande robustesse et permet une grande robustesse et l’absence de zones mortes (pas de cadre)l’absence de zones mortes (pas de cadre)

Idée: la combiner à la technologie du Idée: la combiner à la technologie du résistif résistif

RESIST : RESIST : 12 personnes+1 postdoc+ST12 personnes+1 postdoc+ST

Tests en labo: bulk résistif, mesures de Tests en labo: bulk résistif, mesures de résistivité, uniformité, etc… Nouveau labo résistivité, uniformité, etc… Nouveau labo opérationnel mi-novembreopérationnel mi-novembre

Tests en faisceau ou cosmique au CERN Tests en faisceau ou cosmique au CERN et/ou TRIUMF ou Fermilab et à DESY.et/ou TRIUMF ou Fermilab et à DESY.


TECHNIQUESTECHNIQUES

Film Sheldhal- AlSi cermet + colle Film Sheldhal- AlSi cermet + colle flobond + procédé drytac (Carleton)flobond + procédé drytac (Carleton)

Pâte résistive (CERN, Rui de Oliveira)Pâte résistive (CERN, Rui de Oliveira) Couche déposée (ASiH, AsiP) (MIT Couche déposée (ASiH, AsiP) (MIT

unine, Nicolas Wyrsch)unine, Nicolas Wyrsch)


Several techniques are being tested for the Several techniques are being tested for the resistive coatingresistive coating

1) Carbon-loaded kapton. An old technique first tested in Carleton, using a Dupont film 3 MOhm/sq. Improvements on application of the resistive foil and switch to bulk.

First results promising. One panel recently produced.


2) Prepreg+ screen printing

This has been tried at CERN. 2 prototypes of 10x10 cm (2 and 8 MOhm/sq) have been tried at Saclay. There is not clear evidence that they are spark protected. Even one of the detector has been damaged by the HV during the test. Still such a layer will be applied to a CERN panel.

comparison screen printing with insulator

1000

10000

100000

390 400 410 420 430 440 450 460 470

V mesh

gain

gain R3i

gain R4i

tin


Plasma deposition of thin layers (N. Wyrsch, Neuchatel, used for SiProt)

Preliminary tests going on. Next step: make a small bulk 12x14 cm2

with 2 layers of different resistivity, and then cover a PCB with pads and make a bulk out of it


In-situ TEST at DESYIn-situ TEST at DESY

Gas-box

Trigger counters


New detector with resistive New detector with resistive foil in the gas boxfoil in the gas box


La TPC du Large Prototype est presque prête pour prendre des données


Took data with P5 gas with standard pads Took data with P5 gas with standard pads on October 2 and 3 at 50 MHz sampling on October 2 and 3 at 50 MHz sampling rate, and 200ns peaking time.rate, and 200ns peaking time.

Tested the whole chain again on October Tested the whole chain again on October 27, and switched to the new module (with 27, and switched to the new module (with C-loaded kapton resistive foil) in the test C-loaded kapton resistive foil) in the test box (took about 2 hours)box (took about 2 hours)

Took data since October 27 with P5 Took data since October 27 with P5 50 MHz sampling rate, 200 ns peaking time50 MHz sampling rate, 200 ns peaking time 100 MHz sampling rate, 200 ns peaking time100 MHz sampling rate, 200 ns peaking time 50 MHz sampling rate, 400 ns peaking time50 MHz sampling rate, 400 ns peaking time

Switched then to T2K gas Switched then to T2K gas (Ar/CF4/isobutane:95:3:2)(Ar/CF4/isobutane:95:3:2)


plansplansTake beam data in the magnet in the period of weeks 46-47-48 (+1 or 2?)

- Install and commission beam trigger (today)

- Mount standard panel + 6 dummies on the endplate

- Finalize and connect cathode

- Cool down magnet

- See how to set HV (1st ring to 360-370 V)

- Order gas : 25 bar per bottle, 1 bottle for 18 hours at 60 l/h, 1 bottle in 55 hours at 20 l/h.

- Add bubbler

- Excite magnet on November 10

- Then start beam data taking and analysis

- switch to resistive anode week 47


Simulating and understanding Simulating and understanding SiProtSiProt

A single spark kills a TimePix chipA single spark kills a TimePix chip High current, hot plasma -> destroys circuitHigh current, hot plasma -> destroys circuit A sufficiently thick SiProt layer reduces and softens the A sufficiently thick SiProt layer reduces and softens the

sparkssparks

How protection works?How protection works? Allows charge to stay over the pad, lowering the local Allows charge to stay over the pad, lowering the local

potentialpotential Limits the current thru the amplifierLimits the current thru the amplifier Protects mechanicallyProtects mechanically Avoids points, softens the surface?Avoids points, softens the surface?

Any damage to the signal?Any damage to the signal? Amplitude loss?Amplitude loss? Charge sharing with neighbouring pads?Charge sharing with neighbouring pads? Short-circuit of the amplifiersShort-circuit of the amplifiers Introduces dead time?Introduces dead time?

TO ANSWER, NEED A SIMULATION


Orders of magnitudeOrders of magnitude

R neighbour

R thru

e

lL

Rneighb = L/el = /e for square pads

For 10 µ aSi, =1011 .cm, R=1014 /square

Rthru = e/Ll ~ 0.04 1014

Rneighb/Rthru = L2/e2

e<<L to avoid spreading the charge by side conductivity. The charge preferentially escapes thru the pad, but with an extremely high resistance.

Cneighb = r Le/l =r /e for square pads

Cthru = r Ll/e (note r ~11 for Si)

The influence acts preferentially thru the pad if L>>e


R neighbour

R thru

e

lL

Also Rthru >> 1/C to leave the induced signal

(OK with 1011 cm within 3 orders of magnitude for 10 ns signals)

Equivalently, RC time constant >> 10ns

The signal is fully capacitive

1/Cthru

1/Cneighbour


5 pixels

5 pixels

gas

Siprot

25 Pads

25 TimePixPreamps

gas: 10x10x10elements/pad

SiProt: 10x10x10elements/pad

« central » gas element.C network

(special ones fo edges)

« central » SiProt elementRC network

(special ones fo edges)Pads:Metallisation of the last SiProt elements

« Full » shape100% of pixel

aluminized

« Cross » shape12% of pixel Al,

rest SiN2

Charge Injection at the gas / SiProt interface in the central pixel Size = 4 elts 3 positions.

Top= HT (ac grounded)

1

23

SiProt Simulation with Analog ArtistE. Delagnes, S.Turnbull


Note that SiProt is very different from the charge spreading for improving the resolution (M. Dixit et al.).

In that case, there is an insulating layer (50-100 µ) below a low-resistivity coating: 1 M/sq, 100 nm (i.e. 10 .cm). In that case, the charge obeys the telegraph equation (see Stephen Turnbull’s talk). In SiProt, the signal is capacitive and the charge slowly evacuates in thru the coating and the amplifier.

This Analog Artist simulation can also be used for double layers with 2 different resistivities.

Run time for SiProt: 10 h per set of parameters.

25 AFTERPreamps

gas

resistive

insulator


Signal Signal developmentdevelopment

Charge pulse: 1ns Charge pulse: 1ns trapezoidal current pulsetrapezoidal current pulse

Small Cross vs Large Pads; Timepix Chip Simulation, 15um resistive layer.

-9,00E-04

4,91E-02

9,91E-02

1,49E-01

1,99E-01

2,49E-01

2,99E-01

3,49E-01

0,00E+00 1,00E-06 2,00E-06 3,00E-06 4,00E-06 5,00E-06 6,00E-06

Time (s)

Hig

h (

un

its

)

12 13 14 18 19 20 21 24 12 full 13 full

Injection in the middle

Injection in the corner

Injection in between


ResultsResultsLarge Pad : injection in the middle of pad

0

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0,7

0,8

0,9

1

0 5 10 15 20

Pad

Norm

aliz

ed s

ignal

FULL 10µm

FULL 15µm

FULL 20µm

00 11 22 33 44

55 66 77 88 99

1100

1111

1122

1133

1144

1155

1166

1177

1188

1199

2200

2211

2222

2233

2244

Pads fully covered with Al


ResultsResults

00 11 22 33 44

55 66 77 88 99

1100

1111

1122

1133

1144

1155

1166

1177

1188

1199

2200

2211

2222

2233

2244

"Cross" Pad : injection in the middle of pad

0

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0,7

0,8

0,9

1

0 5 10 15 20

Pad

Norm

aliz

ed s

ignal

Cross 10µm

Cross 15µm

Cross 20µm

Pads 12% covered.


thicknesthicknesss

Signal frac. Signal frac. on central on central

padpad

(Full pads)(Full pads)

Signal frac. on Signal frac. on central padcentral pad

(cross)(cross)

10 µ10 µ 94 %94 % 76 %76 %

15 µ15 µ 83 %83 % 57 % 57 %

20 µ20 µ 70 %70 % 44 %44 %

Charge injected in the middle of the pad


PRFs

0

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0 0,5 1 1,5 2 2,5 3 3,5 4

distance of injection from pad center (in fraction of pad pitch)

Mea

sure

d C

har

ge Full 10µm

Cross 10µm

Full 15µm

Cross 15µm

Full 20µm

Cross 20µm

Pad Response Function


The first resistive bulk works to perfection.

The first cosmics seen show a charge spreading as expected

resist - 03 nov 2008 p. colas 1 resist etat des lieux, bulk résistif, techniques disponibles

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