vendredi 14 juin 2002enst paris – comelec – jean provost1 / 21 miel – bcn – l3 méthodes de...

21
vendredi 14 juin 2002 ENST Paris – COMELEC – Jean Provost 1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

Upload: amadieu-le-bars

Post on 03-Apr-2015

103 views

Category:

Documents


0 download

TRANSCRIPT

Page 1: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

vendredi 14 juin 2002 ENST Paris – COMELEC – Jean Provost 1 / 21

MIEL – BCN – L3

Méthodes de caractérisation

Page 2: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 2

plan

Exercice corrigé Méthodes de caractérisation

Signal CMOS Signal standard Temps de propagation et de transition Capacité maximale de charge Puissance consommée

Page 3: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 3

La cible technologique

Fondeur AustriaMicroSystemshttp://www.austriamicrosystems.com/

Technologie CMOS 0,35µm Niveaux métal = 3 Alimentation VDD = +3,3V Nb de masques = 17 (dont 1 poly) Paramètres techno = typique Température = 27°C Modèle MOS = BSim3v3

Page 4: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 4

La cible technologique valeurs des paramètres technologiques

Ldf = 0,35µmWdf = 1µmLjdf = 1µm

kn = 175 µA V-2 kp = 60 µA V-2

VT0P = -0,65V

tox = 7,5nmC’ox = 4,6fF µm-2

C’jn = 0,93fF µm-2 C’jp = 1,42fF µm-2

C’jwn = 0,28fF µm-1 C’jwp = 0,38fF µm-1

Vdd = +3,3V

VT0N = +0,52V

Page 5: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 5

Modèle capacitif du transistor MOSschéma du circuit équivalent

G

DS

B

CGSO CGDO

CjS CjD

IdsCGC

CCB

CGB

CGB

B

DS

G

B

Page 6: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 6

Modèle capacitif du transistor MOSquelques équations!

CGC = W L 0rox

tox

CCB = W L 0rSi

xd(Vgb)

CGB = –––––––––––1

1 1CGC CCB(Vgb)––– + –––––

CGDO = CGSO = C'ox W LD

CDB = CSB = C’j0W Lj + C’j0w 2(W+Lj)

Page 7: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 7

Le courant Ids du NMOS (résumé) quelques équations!

Vgs = Vdd > VT0N

L

W

2

k

L

W

2

CµK

'ox0

ox

rox0'ox t

C

Vgs = 0 VT0N Ids = 0

Vds 0+ N0VTVddKn2

1N0RDS

0 < Vds < VdssatVds

2

VdsN0VTVddKn2Ids

Vds = Vdssat = Vgs - VT0N 2sat N0VTVddKnIds

Vds > Vdssat satsat VdsVds1IdsIds

Page 8: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 8

Exercice: amplification logiqueoptimisation du temps de propagation

u kwCL

Ln = Lp = LdfWnu = WdfWp = Wn*psnk = µ0*C’ox

psn = (équilibrage)knkp

Wn2 = Wnu*kw

tp

Si:

VT0N = |VT0P|

Page 9: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 9

Exercice: amplification logiqueproblématique

u kwCL

tpal = tpINVu + tpINV2

tp

tpINVu = tpu + dtpu*CeINV2

tpINV2 = tp0INV2 + dtpINV2*CL

tp0INV2 ? tpu, kw

dtpINV2 ? dtpu, kw

CeINV2 ? Ceu, kw

Page 10: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 10

Caractérisation: le signal CMOS

But de la simulation:être le plus «réaliste» possible

Exemple le signal CMOS: Un générateur idéal 2 inverseurs unitaires

Dimensions minimales: Wnu=Wdf, Lnu=Lpu=Ldf,

Équilibrés:

u

P0T

N0T

VVddkp

VVddkn

Wn

Wppsn

u

Vg Ve

Page 11: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 11

Caractérisation: le signal standard

Buts de la bibliothèque:être le plus «prévoyant» possiblesimplifier la conception de matériel

Exemple le signal standard: Un signal CMOS Un temps maximal de transition: ttmax

À l’intérieur du circuit: i : tti ttmax, ttmax: temps de transition (montée et descente)

à la sortie de 1 invu chargée par 16 invu

Page 12: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 12

ttm=ttd=ttmax

Ve

le signal standard: ttmaxcaractérisation de la technologie

u u

Vg

u

Vs

u1

u2

u15

u16

M=16

Page 13: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 13

Cx

ttm=ttd=ttmax

Ve

le signal standard: ttmaxsignal appliqué

u u

Vg

X

Cei

Cx + Cei = 16*Ceu

Page 14: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 14

Caractérisation: quels paramètres?

Conditions

Conséquences

tp = tp0 + dtp * Cext

Cext = Cei ei , sk :

ttm ttmax ttd ttmax

tp0 entre chaque [ei, sk] (en respectant ttmax)dtp sur chaque sk (en respectant ttmax)

Ce sur chaque ei

Cextmax sur chaque sk (Cext telle que tt=ttmax)

metd

Page 15: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 15

tpei

tpei

Caractérisation: la capacité d’entrée

u u u

X

Cei

VgCei

tp

Cxe

tpei = tpxe

Cei = Cxe

u u u

tpxe

Cxe

tpxe

Page 16: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 16

ttmax

Caractérisation: tp0, dtp, Cextmax

X

skei

Vg

u u

Cx

ttmax

ttk

Cextmax

t

Cext

dtpk

tp0ik

Cext

tp0ik + dtpk Cext

ttk

Page 17: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 17

Vdq=

Vdd=

Caractérisation: Puissance consomméeà vide en µW Mhz-1

ttmax

ttk

Cextmax

P, t

Cext

Pvdd

ttmax

X

skei

Vg

u u

Cx Cext

ttk

À partir de Pvdd, comment calculer la puissance consommée à vide,alors que Cext n’est pas nulle?

Page 18: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 18

Feuille de caractéristiquesdata sheet

Pin Cap [fF]

A 8 B 10

table de vérité

A B Q0 X 1X 0 11 1 0

capacités

aire puissance

55 µm2

0.35 µm CMOS NA2

NA2

0.293 µW/MHz

Page 19: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 19

Feuille de caractéristiquesdata sheet

0.35 µm CMOS NA2

Caractéristiques dynamiques: Tj = 27°C VDD = 3.3V Typical Process

Rise Fall

Slope [ns] 0.1 2 0.1 2

Load [pF] 0.015 0.15 0.015 0.15 0.015 0.15 0.015 0.15

Delay A => Q 0.11 0.59 0.32 0.88 0.11 0.49 0.23 0.83

Delay B => Q 0.12 0.6 0.37 0.9 0.11 0.49 0.16 0.69

Slew A => Q 0.31 1.87 0.69 2.09 0.18 1.09 0.65 1.5

Slew B => Q 0.34 1.92 0.75 2.13 0.18 1.09 0.6 1.39

Page 20: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 20

Paramètres typiques

Paramètres technologiques « slow » « typ » « fast »

Température 150°C 27°C

Tension d’alimentation Dégradéee: +2,9V Nominale: +3,3V

Page 21: Vendredi 14 juin 2002ENST Paris – COMELEC – Jean Provost1 / 21 MIEL – BCN – L3 Méthodes de caractérisation

ENST Paris – MIEL-BCN – L3 21

Choix du jeu de paramètres

Nombre de circuits validés

Performance

Rejetés parle fondeur slow

typ

fast