Conçu pour la microscopie par fluorescence

Compatible avec les lampes à arc, les lasers et les DEL

Intègre une large plage dynamique dans un seul détecteur

Capture facile de paramètres et de données via l’interface PC

Maximisez la répétabilité pour l’intégrité des données : mesurez la puissance là où c’est le plus important !

Système de mesure de la puissance optique X-Cite®

La capacité de mesure de la puissance optique est la première étape du maintien de la cohérence de données. L’appareil de mesure de puissance X-Cite® XR2100 et le capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750 sont spécifiquement conçus pour mesurer la puissance au niveau du spécimen dans des applications de microscopie par fluorescence. En intégrant des fonctions essentielles à cette application, nous avons rendu l’obtention de ces informations critiques plus facile que jamais.

CONçu POuR lA MICROSCOPIEConstruit pour tenir dans des pinces de microscope standards, le profil mince du capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750 est idéal pour une utilisation dans l’espace limité entre les objectifs et les plateaux sur les microscopes droits. Sur les microscopes droits, centrez simplement la lumière de transmission d’en haut sur la cible imprimée pour centrer la zone de détection sur la lentille de l’objectif. Vous travaillez avec un éclairage diffus ? L’affichage rétroéclairé de l’appareil de mesure de puissance X-Cite®

XR2100 assure que la lisibilité des lectures est toujours possible.

lARGE PlAGE dyNAMIquECalibré pour une utilisation à n’importe quelle longueur d’onde entre 320 nm et 750 nm, le X-Cite® XP750 est compatible avec une large gamme de filtres. Avec une sensibilité à des niveaux de puissance de 5 µW à 500 mW, il est approprié dans des applications avec des éclairages de faible et forte intensité. Il est adapté pour une utilisation avec des dispositifs de transmission numériques et autres configurations de microscope standards et confocaux.

POlyVAlENT ET PRATIquEDu fait que le X-Cite® XP750 mesure directement la lumière sur le plateau, il peut être utilisé avec n’importe quelle source de lumière épifluorescente comme : des lampes à oxygène hyperbare / au mercure, aux halogénures métalliques ou au xénon, des lasers et des DEL. Avec des centaines de choix de longueurs d’ondes, le X-Cite® XR2100 vous permet de définir des « longueurs d’ondes favorites » pour correspondre à vos sources et vos filtres les plus fréquemment utilisés.

CERTIFIÉ ET TRAçAblELes X-Cite® XR2100 et X-Cite® XP750 sont calibrés selon un protocole strict en utilisant les normes de transfert NIST* et NRC**. Pour vos enregistrements, des certificats de calibration accompagnent chaque unité.

RÉPÉTAblE : SOyEz EN CONTRôlE !La cohérence est essentielle pour l’intégrité des données. En mesurant et en enregistrant la puissance de sortie en unités absolues (watts) grâce au X-Cite®, vous vous assurez que les niveaux d’éclairage utilisés dans une expérience puissent toujours être répétés, quels que soient les changements qui se produisent au fil du temps par rapport aux sources de lumière, aux guides de lumière, aux filtres et aux autres éléments optiques. Cette fonctionnalité unique est critique pour réduire le temps de traitement d’image post-expérience ; assurer la précision de comparaison d’imagerie quantitative ; et rassembler des documentations complètes d’expériences.

X-Cite® XP750 en utilisation avec des microscopes droits et inversés

la majorité de notre recherche dépend de l’analyse microscopique de fluorescence quantitative sur de longues périodes de temps.® la conception du X-Cite XP750 simplifie les mesures routinières de la quantité exacte de lumière d’excitation délivrée au spécimen à n’importe quel moment.

Damir Sudar, Lawrence Berkeley National Laboratory

la cohérence d’éclairage est-elle importante pour vos données d’images ?

Mesurez votre puissance.

*NIST – National Institute of Standards and Technology **NRC – National Research Council

la majorité de notre recherche dépend de l’analyse microscopique de fluorescence quantitative sur de longues périodes de temps.® la conception du X-Cite XP750 simplifie les mesures routinières de la quantité exacte de lumière d’excitation délivrée au spécimen à n’importe quel moment.

Damir Sudar, Lawrence Berkeley National Laboratory

X-CITE® : uNE FAMIllE dE PROduITS FIAblE

X-Cite® est une famille de produits d’éclairage et de mesure conçus spécialement pour la microscopie par fluorescence. Que vous observiez des cellules fixes ou vivantes, X-Cite® propose une gamme complète de lampes et de produits LED qui optimisent l’imagerie et assurent une plus grande fiabilité des données.

De notre modèle standard X-Cite® 120Q, utilisé pour les essais de routine, à notre système le plus avancé X-Cite® XLED1, équipé d’options d’automatisation et de commande sophistiquées pour l’imagerie automatisée à grande vitesse de cellules vivantes, X-Cite® a la solution d’éclairage par fluorescence adaptée à votre application.

Pour plus d’informations sur la gamme complète des produits X-Cite®, consultez notre site Web à l’adresse : www.LDGI-XCite.com.

COMMuNICATION PCProfitez de l’option d’archivage d’enregistrements sans support papier. Avec le X-Cite® XR2100, vous pouvez stocker des mesures de puissance pour les télécharger ou les consigner directement dans l’interface PC X-Cite®. Spécialement conçu pour le X-Cite® XP750, l’outil « power snapshot » vous permet de collecter et d’enregistrer les données par longueur d’onde, objectif et intensité. Cela permet un enregistrement complet de la puissance d’éclairage pour n’importe quelle combinaison de paramètres utilisés lors de l’optimisation et de l’acquisition d’images.

OuTIl dE dIAGNOSTIC ESSENTIEl POuR lES INSTAllATIONS d’IMAGERIELe système de mesure de puissance optique X-Cite® peut être utilisé pour plusieurs microscopes et leurs sources de lumière. En sus de la standardisation des niveaux d’éclairage pour les expériences, le X-Cite® XR2100 est un outil de diagnostic vital pour les installations d’imagerie, les technico-commerciaux et les centres de service, fournissant des données de sortie optiques pour :

• paramétrer les systèmes d’imagerie, déterminer les performances de référence

• dépanner des systèmes d’imagerie en quantifiant les effets d’ajustement des paramètres et de réparation d’éléments individuels

• maintenance préventive : contrôler la sortie optique au fil du temps afin de déterminer quand les éléments, comme les lampes et les guides de lumière, doivent être remplacés

COMPATIbIlITÉ AVEC d’AuTRES SySTèMES X-CITE®

Vous avez un illuminateur X-Cite ? Mesurez la puissance de sortie sur le plateau avec le X-Cite® XP750, ou via le port de guide de lumière sur le X-Cite® XR2100, compatible avec tous les guides de lumière X-Cite®. Calibrez le X-Cite® exacte en utilisant les données de puissance mesurées soit au niveau du guide de lumière soit au plan de l’objectif. Associer le X-Cite XP750 à la fonctionnalité de calibrage du X-Cite® exacte vous offre en plus les avantages de pouvoir ajuster le niveau d’intensité lors de l’imagerie et d’obtenir la puissance en watts sans avoir à vous arrêter pour prendre une nouvelle mesure.

le X-Cite XP750® va devenir un élément important de la boîte à outils de tout enquêteur effectuant un travail quantitatif exigeant une répétabilité absolue en termes d’excitation de sortie.Michael W. Davidson, The Florida State University

Mesurez votre puissance.

Lumen Dynamics Group Inc. est certifiée dans le cadre du système de gestion de la qualité ISO 9000. Nos clients internationaux peuvent compter sur Lumen Dynamics comme étant le fournisseur le plus fiable possible dans tous les aspects de nos activités.

X-Cite® et Intelli-Lamp® sont des marques déposées de Lumen Dynamics Group Inc.Tous droits réservésImage d’arrière-plan fournie par Ludwig Eckl, Liebmann Optical Company Inc.

Lumen Dynamics a fait tout son possible pour que les informations contenues dans cette feuille de spécification soient exactes. Cependant, nous déclinons toute responsabilité pour toute erreur ou omission, et nous nous réservons le droit de modifier, à tout moment et sans obligation, la conception, les caractéristiques et les produits. Contactez Lumen Dynamics pour les prix et la disponibilité ou pour obtenir le numéro de téléphone de votre représentant Lumen Dynamics local.

FONCTIONS AVANTAGES

X-Cite® XP750

Dimensions de lame de microscope à profil mince Tient dans une pince de microscope standard pour une mesure pratique de la lumière directement depuis l’objectif, sans retirer ou reconfigurer l’équipement

Compatible avec les lampes et les sources de lumière laser et DEL Utilisation économique d’un système pour plusieurs microscopes, quelle que soit la technologie d’éclairage

Grande surface de détection : 10 mm Approprié pour une utilisation avec des objectifs de faible et fort grossissement

Aucune focalisation requise Obtention rapide de mesures précises

Large plage de longueurs d’ondes et de puissances Approprié pour une large gamme d’applications et de configurations de microscope

X-Cite® XP750 et XR2100

Éclairage LCD rétroéclairé Affichage clair des données, même dans des conditions d’imagerie microscopique avec éclairage diffus

Deux ports d’entrée pour la mesure de puissance via un capteur pour objectif plan ou un guide de lumière Choix de contrôle de performance de la source de lumière de l’ensemble du système du microscope ou des éléments individuels

Calibrage traçable aux normes NIST* / NRC** Obtention d’assurance qualité et de confiance dans la précision des résultats

Collecte, stockage et exportation des données en un clic / avec un bouton Maintien organisé des données avec archivage précis des enregistrements sans support papier

Interface PC Gestion aisée des paramètres et des données sur PC ; automatisation pratique pour une utilisation OEM

Compatibilité avec la fonction de calibrage X-Cite® exacte Calibrage facile de X-Cite® exacte avec guide de lumière ou capteur d’objectif plan pour afficher et paramétrer la puissance en watts

SPÉCIFICITÉS X-Cite® XR2100 X-Cite® XP750

Inclut Appareil de mesure de puissance portable, adaptateur de guide de lumière de 3 mm, CD avec logiciel, câbles, manuel de l’utilisateur

Capteur de puissance plan pour objectif avec câble/connecteur pour X-Cite®

XR2100

Amplitude de puissance 50 mW à 10 W 5 µW à 500 mW

Résolution des mesures 0,1 mW à 0,01 W 0,01 µW à 1 mW

Plage d’exactitude*** ± 5 % ± 6 %

Temps de réponse 1 s 600 ms (initial), 3 s (pour permettre une lecture stable)

Calibrage Traçable en NIST* Traçable en NRC*

Plage de longueurs d’onde 340 nm à 675 nm 320 nm à 750 nm

Compatibilité Type de lampe / Source d’éclairage X-Cite® exacte, X-Cite® 120 Series (avec utilisation d’un port d’entrée de guide de lumière de 3 mm)

X-Cite® exacte, X-Cite® 120 Series, lampes à oxygène hyperbare / au mercure, aux halogénures métalliques, au xénon, lasers et DEL

Compatibilité de l’objectif Ne s’applique pas 4X-63X ; accouplement à air, avec des diamètres de champs de vision inférieurs à 10 mm

Affichage LCD à 3 chiffres, rétroéclairé Via X-Cite® XR2100

Sélection de longueurs d’onde Ne s’applique pas Incréments d’1 nm à l’aide des boutons haut/bas sur le X-Cite® XR2100 ou l’interface PC

Capacité de donnéesStockage de 100+ lectures dans l’unité portable, ou enregistrement direct dans l’interface PC ; exportation au format compatible avec feuille de données

Via X-Cite® XR2100

Commandes PC Affichage/modification des paramètres, téléchargement/exportation des données stockées

Affichage/changement des paramètres, définition des longueurs d’ondes favorites, enregistrement des données pour plusieurs paramètres d’objectifs/de filtres /de paramètres d’intensité, téléchargement/exportation des données stockées

Protocole de commandes RS232 via port COM virtuel USB Via X-Cite® XR2100

Alimentation 2 piles de 3,6 V au lithium Via X-Cite® XR2100

Poids 450 g 82 g

Dimensions (sans le couvercle) 19 cm x 11,5 cm x 5 cm 75 mm x 25 mm x 9 mm

Certifications mondiales Marque CE Via X-Cite® XR2100

Garantie 1 an 1 an

Brevets Le système de mesure de puissance optique X-Cite® intègre une technologie protégée par les brevets suivants :US#6,437,861; US#7,335,901

*NIST – National Institute of Standards and Technology **NRC – National Research Council ***Il est recommandé de calibrer le X-Cite® XR2100 et le X-Cite® XP750 tous les douze mois. Veuillez contacter la Division des sciences de la vie et de l'industrie (Life Sciences & Industrial Division) de EXFO pour d’autres renseignements.

2260 Argentia Road, Mississauga, Ontario, L5N 6H7 CANAdA

www.LDGI-XCite.com

Téléphone : +1 905 821-2600 Numéro vert (États-Unis et Canada) : +1 800 668-8752 Télécopie : +1 905 821-2055

X-Cite@LDGI.com