ele6306 : test de systèmes électroniques projet de cours bist pour can avec interface minimal

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ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal Marc-Antoine Fortin et Philippe Levesque Professeur : A. Khouas Département de génie électrique École Polytechnique de Montréal

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ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal. Marc-Antoine Fortin et Philippe Levesque Professeur : A. Khouas Département de génie électrique École Polytechnique de Montréal. Plan. Description du UUT Paramètres d’un CAN Architecture du BIST - PowerPoint PPT Presentation

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Page 1: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

ELE6306 : Test de systèmes électroniquesProjet de cours

BIST pour CAN avec interface minimal

Marc-Antoine Fortin et Philippe Levesque

Professeur : A. Khouas

Département de génie électrique

École Polytechnique de Montréal

Page 2: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Plan

Description du UUTParamètres d’un CANArchitecture du BISTDiagramme d’état de la MSAMéthodologieRésultats

Page 3: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

3

Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Description du UUT

B1

B8

Vref

GND

Vout

ENB

D/A Converter

U/D

Reset

B1

B8

Carry out

ENB

Counter

0-3.3V environnement1.8 V

0-0.9V

Up/Down

Reset

Sample

3.3 V

GND

CarryOut_low

3.3V

+

-Différentialoutput withCMFB

ReferenceVoltage0.45 V

Vref

Vdac

OPEN-DRAIN

HV CMOS

InputBuffer

HV CMOS

Control signalgenerator

0.18 micron process chipReference Band

Gap Voltage1.8 V

Compteur 8 bits adersssant un CNA 8 bits opérant sur la plage 0-0.9 V

Page 4: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Paramètres d’un CNA

ConvertisseurNumérique à Analogique

Idéal(exemple 3 bits)

001 010 011 101110 111Code binaire à l'entrée

000 100

8

1

7

86

85

84

83

82

81

Tens

ion

anal

ogie

que

en s

ortie

Vou

t

Vre

f

0

Codes binaires à l'entrée

ConvertisseurNumérique à Analogique

réel(exemple 3 bits)

001 010 011 101110 111

Décalage

100

8

1

7

86

85

84

83

82

81

Tens

ion

anal

ogie

que

en s

ortie

Vou

tV

ref

0

Idéal

000

Gain

Non-MonotoneDNL

VLSB

INL

réel

VLSB

Monotonie, Erreur de décalage, Erreur de gain, Erreurs de non-linéarité différentielle

et intégrale

Page 5: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Architecture du BIST

TEST

U/D

Reset

B1

B8

Carry out

ENB

Counter

A

H

U/D

Reset

B1

B8

Load

Carry out

ENB

Preload Counter

Up_DownResetCLK

TEST

DAC_out

Device Under Test

MuxedCompare

A

B

B>AORA>B

MSA

Error

Mode

VDDVSS Carry_out

D Q>

12

Vref

CNA8

RST_ErrorCLK_Error

LOAD_CNT

MUX 2à1

0 1sel MUX 2à1

0 1sel

MUX 2à1

0 1sel

MU

X 2

à1

01 sel

CLK_ErrorRST_Error

LOAD_CNT

CounterU/D

RST

> Cout

PreloadCounter

125

5

U/DRST> <

D QSET> RST

Vin

fout

VCO

S1

S2

S3

D1

D8

ENB

DecoderLUTA2

A1

A0

CLK_CNT

CLK_CNT

SEL_CNT

SEL_CNT

Page 6: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Diagramme d’état de la MSAMode

Normale

InitialisationDécalage

IntégrationDécalage

SortieDécalage

InitialisationGain

SortieINL

FinBIST

TESTNON

OUI

.

.

.

TESTOUI

NON

Sortie: CLK

LUT: Add = Décalage

LUT: Add = Gain

LUT: Add = Décalage

LUT: Add = DécalageDSBSE

Intégrateur: U/D = DOWN

Sortie: RST SBSE

Intégrateur: RST

U/D = DOWN

SBSE

CNA: RST SBSE

LUT: Add = -INLDSBSE

Sortie: CLK

DSBSE

CNA: CLK

U/D = DOWN

Intégrateur: U/D = UP

Page 7: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Méthodologie

Revue de la littératureSimulation VHDL

Modélisation des erreurs Modélisation des parties analogiques

Estimation de la surface

Page 8: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Résultats

Surface plus que doublée2 plots additionnelsAucun équipement de test externe Modes

Diagnostique Test

Optimisations possibles Multivibrateur monostable non redéclenchable Intégrateur en parallèle Combiner DNLi avec INLi

Page 9: ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal

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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal

Questions