ele6306 : test de systèmes électroniques projet de cours bist pour can avec interface minimal
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ELE6306 : Test de systèmes électroniques Projet de cours BIST pour CAN avec interface minimal. Marc-Antoine Fortin et Philippe Levesque Professeur : A. Khouas Département de génie électrique École Polytechnique de Montréal. Plan. Description du UUT Paramètres d’un CAN Architecture du BIST - PowerPoint PPT PresentationTRANSCRIPT
ELE6306 : Test de systèmes électroniquesProjet de cours
BIST pour CAN avec interface minimal
Marc-Antoine Fortin et Philippe Levesque
Professeur : A. Khouas
Département de génie électrique
École Polytechnique de Montréal
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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal
Plan
Description du UUTParamètres d’un CANArchitecture du BISTDiagramme d’état de la MSAMéthodologieRésultats
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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal
Description du UUT
B1
B8
Vref
GND
Vout
ENB
D/A Converter
U/D
Reset
B1
B8
Carry out
ENB
Counter
0-3.3V environnement1.8 V
0-0.9V
Up/Down
Reset
Sample
3.3 V
GND
CarryOut_low
3.3V
+
-Différentialoutput withCMFB
ReferenceVoltage0.45 V
Vref
Vdac
OPEN-DRAIN
HV CMOS
InputBuffer
HV CMOS
Control signalgenerator
0.18 micron process chipReference Band
Gap Voltage1.8 V
Compteur 8 bits adersssant un CNA 8 bits opérant sur la plage 0-0.9 V
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Projet, ELE6306 - 24 avr. 2023 École Polytechnique de Montréal
Paramètres d’un CNA
ConvertisseurNumérique à Analogique
Idéal(exemple 3 bits)
001 010 011 101110 111Code binaire à l'entrée
000 100
8
1
7
86
85
84
83
82
81
Tens
ion
anal
ogie
que
en s
ortie
Vou
t
Vre
f
0
Codes binaires à l'entrée
ConvertisseurNumérique à Analogique
réel(exemple 3 bits)
001 010 011 101110 111
Décalage
100
8
1
7
86
85
84
83
82
81
Tens
ion
anal
ogie
que
en s
ortie
Vou
tV
ref
0
Idéal
000
Gain
Non-MonotoneDNL
VLSB
INL
réel
VLSB
Monotonie, Erreur de décalage, Erreur de gain, Erreurs de non-linéarité différentielle
et intégrale
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Architecture du BIST
TEST
U/D
Reset
B1
B8
Carry out
ENB
Counter
A
H
U/D
Reset
B1
B8
Load
Carry out
ENB
Preload Counter
Up_DownResetCLK
TEST
DAC_out
Device Under Test
MuxedCompare
A
B
B>AORA>B
MSA
Error
Mode
VDDVSS Carry_out
D Q>
12
Vref
CNA8
RST_ErrorCLK_Error
LOAD_CNT
MUX 2à1
0 1sel MUX 2à1
0 1sel
MUX 2à1
0 1sel
MU
X 2
à1
01 sel
CLK_ErrorRST_Error
LOAD_CNT
CounterU/D
RST
> Cout
PreloadCounter
125
5
U/DRST> <
D QSET> RST
Vin
fout
VCO
S1
S2
S3
D1
D8
ENB
DecoderLUTA2
A1
A0
CLK_CNT
CLK_CNT
SEL_CNT
SEL_CNT
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Diagramme d’état de la MSAMode
Normale
InitialisationDécalage
IntégrationDécalage
SortieDécalage
InitialisationGain
SortieINL
FinBIST
TESTNON
OUI
.
.
.
TESTOUI
NON
Sortie: CLK
LUT: Add = Décalage
LUT: Add = Gain
LUT: Add = Décalage
LUT: Add = DécalageDSBSE
Intégrateur: U/D = DOWN
Sortie: RST SBSE
Intégrateur: RST
U/D = DOWN
SBSE
CNA: RST SBSE
LUT: Add = -INLDSBSE
Sortie: CLK
DSBSE
CNA: CLK
U/D = DOWN
Intégrateur: U/D = UP
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Méthodologie
Revue de la littératureSimulation VHDL
Modélisation des erreurs Modélisation des parties analogiques
Estimation de la surface
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Résultats
Surface plus que doublée2 plots additionnelsAucun équipement de test externe Modes
Diagnostique Test
Optimisations possibles Multivibrateur monostable non redéclenchable Intégrateur en parallèle Combiner DNLi avec INLi
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Questions