semiconducteurs propriétés – jonction p-n. 2 historique

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Semiconducteurs

Propriétés – Jonction p-n

3

Liaisons dans les solides

Solides cristallins• Solide = arrangement périodique d’atomes• Réseaux cristallins: minéralogie• 1912 (Laue): diffraction des rayons X

Liaison métallique• Ions positifs• Gaz d’électrons libres entre les ions

- annule la répulsion entre les ions- grande mobilité haute conductivité électrique

Max von Laue1879-1960

4

Liaisons dans les solides (2)

Liaison ionique (ex. NaCl)• Atomes complètement ionisés

- Na donne un e- à Cl Na+, Cl-

• Cohésion: électrostatique• Très peu d’ e- libres: conductivité très basse

Laison covalente• 2 atomes voisins mettent 2 électrons en commun• But: 8 e- sur la dernière couche

5

Structure du silicium

Structure diamant• 2 x cubique à faces centrées (fcc)• Chaque atome: 4 voisins

- Tétraèdre

4 Liaisons• Chaque atome donne 1 e-

• 2 e- par liaison

Paramètre de maille: a

Si 5,43 Å

Ge 5,65 Å

6

Semiconducteurs III-V

Structure cristalline• 1 réseau: atomes du groupe III

- Ga, Al, In• 1 réseau: atomes du groupe V

- N, P, As, Sb• Structure: zinc-blende

- Ex. GaAs, AlAs, InAs, InP, GaN 4 liaisons

• Atome du groupe III: 3/4 d’e-

• Atome du groupe V: 5/4 d’e- Total: 2 e-

Composés ternaires• 2 types d’atomes du groupe III (Ga1-xAlxAs, GaInP, …)

7

Bande interdite (gap)

Écart minimum entre• bande de valence• bande de conduction

Gap• Direct (même )• Indirect ( différents)

k

k

8

Création de paires électron-trou

Si T > 0• e- passent de la bv à la bc• Apparition d’e- libres

(conduction)• Apparition de trous dans la bv

Concentrations• n (e- / cm3) = p (trous / cm3) = ni

• paire électron-trou (semiconducteur intrinsèque)

9

Nombre de paires

Création• favorisée par la température

Recombinaison• libération d’énergie en

- chaleur- émission de photons

• fonction de- température- nombre de paires

Nombre total

32

10 3 -23

exp constante de Boltzmann2

à 300K, 10 = 1.3806210 /

gi B

B

i

En AT k

k Tn cm J K

10

Conductivité des semiconducteurs

Sous l’effet de E• déplacement des e- dans

le sens opposé à E• déplacement des trous

dans la direction de E

Vitesse de dérive

Densité de courant

- = mobilité des e

= mobilité des trousd e e

d t t

v E

v E

e tj ne pe E

Semi. intrinsèque: e t ij n eE

11

Semiconducteurs extrinsèques - dopés n

Eléments du groupe V• As, Sb, P• 5 électrons de valence• 1 e- excédentaire

conduction

Dopage = introduction dedonneurs• 1014 – 1019 atomes/cm3

• petit par rapport au Si (1022)

• grand par rapport à ni

• Conduction majoritaire: par les e-

12

Eléments du groupe III• B, In, Ga• 3 électrons de valence• 1 e- manquant

trou excédentaire

Dopage = introduction d’accepteurs• 1014 – 1019 atomes/cm3

• Conduction majoritaire: par les trous

Semiconducteurs extrinsèques - dopés p

13

Conductivité des semiconducteurs dopés

A très basse température• impuretés non ionisées• conductivité <<

-273 - 100°C• ionisation rapide des impuretés

(énergie meV)• augmente

-100 +150°C• conductivité de type métallique

> 150°C• création de paires e- - trous (mode intrinsèque)

e tne pe

14

Résistivité en fonction du dopage

A T° ambiante, toutes les impuretés ionisées

En pratique• n ~ 1014 – 1019 cm-3

• Si intrinsèque rare

type ntype p

e

t

nepe

proportionnelle à n

15

Jonction p-n à l’équilibre

Jonction• Na = concentration d’accepteurs dans p

• Nd = concentration de donneurs dans n

Concentrations de charges

• chaque partie est électriquement neutre

Zone p Zone n

Na ions négatifs – Nd ions positifs +

pp trous ( Na) + nn électrons ( Nd) –

np électrons – pn trous +

Porteurs majoritaires

Porteurs minoritaires

16

Mise en contact

Diffusion• e- de n vers p• trous de p vers n• courant de porteurs majoritaires: I1

Equilibre des charges rompu• recombinaison des e-

et des trous• charges des ions

plus compensées• zone de déplétion

- pas de charge libre- champ E

17

Mise en contact (2)

Champ E grandit• freine la diffusion• nouvel équilibre atteint

Porteurs minoritaires(des paires e- - trou)• sont accélérés par E• nouveau courant I2: courant de dérive

(de n vers p)• principalement fonction du nombre de porteurs

fonction de la T° Equilibre

• I1 = - I2

18

Potentiel à l’équilibre

Potentiel de diffusionV0: barrière de potentiel

Energie potentielle des e-

Ep = -eV

19

Polarisation de la jonction

• barrière rehaussée• courant majoritaire diminue• courant minoritaire augmente peu sens bloquant

• barrière abaissée• courant majoritaire augmente• courant minoritaire diminue peu sens passant

20

Diode: courbe I / V

Diode

Convention• V positif si + sur anode

et – sur cathode• I positif si passe de cathode

vers l’anode par l’extérieur

Equation caractéristique

0 exp 1

B

eVI I

k T

0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8

Photodétecteurs

Principes - Applications

22

Photodiode p-n

Principe• jonction p-n polarisée

dans le sens bloquant• couche supérieure

mince jonction exposée à la lumière

Action des photons

• création de paires e- - trous si E > Eg

g

hcE

23

Courant inverse

Paires dans la zone de déplétion• e- accélérés vers zone n• trous accélérés vers p courant inverse augmente

proportionnellement au nombre de photons

Paires dans la zone p (ou n)• e- et trous diffusent aléatoirement• la plupart se recombinent• éventuellement, la diffusion les

amènent vers la zone de déplétion problème: retard

24

Temps de réponse

Paires e--trou créées dans la zone de charge d’espace• très rapidement accélérées• réponse quasi-immédiate

Zone très mince• beaucoup de paires créées

en-dehors• beaucoup de retard temps de réponse long (µs)

25

Photodiodes PIN

Principe• augmenter l’épaisseur de la

zone de charge d’espace• intercaler une couche de

semiconducteur intrinsèque• transfert rapide des charges temps de réponse court (ns)

26

Calcul du temps de réponse

Mouvement des charges dans la zone intrinsèque• d = 15 µm

• µp (trous): 350 cm2/ V.s

• µn (e-): 1500 cm2/ V.s

Vitesse de dérive (des trous)2 1 1

4

6

10350

15 102,3 10 /

d p p

V Vv µ E µ cmV s

d cmcm s

0,6d

dns

v

27

Capacité de jonction

Accumulation de charges• + du côté n• - du côté p• équivalent à un C de qques pf

Schéma équivalent• Cd en // sur diode

• réduit le courant externe, d’un facteur si 1

2dCd

X R RfC

1 2

3

12dB

d

fRC

28

Réponse spectrale

Sensibilité

Dépend de • augmente avec (plus de photons par watt)

• limite: < hc / Eg

- visible, IR proche: Si- IR: InGaAs

• mais: courant noir ~

/sd

o

IS A W

P

gE

kTe

29

Photodiode à avalanche

Principe• très grand champ

charges peuvent créer des paires e- - trou

• V extérieur très élevé (500 V)

Solution: séparer • zone d’absorption ( épaisse)• zone de multiplication ( mince)

- champ avec V faible

Caractéristiques• sensibilité >> diode PIN• réponse: 100 ps

E))))))))))))))

E))))))))))))))

30

Cellule photovoltaïque

Principe• photodiode ordinaire• pas de polarisation

• V = V0 0,5 V (Si)

Utilisation

p

n

R

+

-

i

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